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本发明涉及一种相移干涉成像和定向发射SERS成像同时检测装置，属于检测装置技术领域。本发明的检测装置，包括相移干涉成像系统、光学耦合系统和定向发射SERS成像系统；相移干涉成像系统发射的激光以表面等离子体共振角度入射样品池中的被测物后，一部...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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