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半导体器件的制作方法以及半导体器件技术
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文档序号:41851056
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本申请提供了一种半导体器件的制作方法以及半导体器件,该半导体器件的制作方法包括:提供第一待键合结构以及第二待键合结构,第一待键合结构包括叠置第一预备晶圆以及第一金属层,第二待键合结构包括第二晶圆;以第一金属层远离第一预备晶圆的表面为键合界面...
该专利属于无锡华润安盛科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡华润安盛科技有限公司授权不得商用。
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