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本发明公开了一种按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电路测试技术，该方法包括：获取按键电路中目标待测按键对应的目标波形图，目标波形图包括至少两个输出电平；对至少两个输出电平进行顺序标记，获得电平顺序码，一个电平顺序码对应一个输...
该专利属于杭州芯云半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州芯云半导体技术有限公司授权不得商用。

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