按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电路测试技术，该方法包括：获取按键电路中目标待测按键对应的目标波形图，目标波形图包括至少两个输出电平；对至少两个输出电平进行顺序标记，获得电平顺序码，一个电平顺序码对应一个输出电平；对电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别统计，获得目标待测按键的测试机制，基于测试机制对目标待测按键进行测试。本发明专利技术通过对电平顺序码中所有奇数位的输出电平和所有偶数位的输出电平进行分别分析，以确定目标待测按键的测试机制的方式，取到了简化测试流程，提高按键电路测试效率的有益效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路测试，尤其涉及一种按键电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、在集成电路测试领域中，对于按键电路而言，如遥控器电路，需要测试每个按键是否合格，从而确保产品的实用性，提高用户对产品的使用体验。

2、现有对按键电路进行测试的方式一般为：对于任一待测按键，测试机获取待测按键对应的码值(一般由0和1组成)，为对每个测试按键进行区分，每个测试按键对应的码值包含多位(具体位数与编码格式有关)，如待测按键的码值为“1001010100001111”；可选地，根据行业规则，在码值“1”中包含三个电平周期，分别是h-l-l；码值“0”中包含两个电平周期，分别为h-l，其中，h表示高电平，l表示低电平，从而可对测试按键的码值“1001010100001111”进行解码，以获得码值对应的编制向量：

3、“hllhlhlhllhlhllhlhllhlhlhlhlhllhllhllhllhll”

4、可选地，还可根据编制向量对应的高低电平获得待测按键对应的波形图等。在测试待测按键是否符合规范时，预先根据按键电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种按键电路的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的按键电路的测试方法，其特征在于，所述对至少两个所述输出电平进行顺序标记，获得电平顺序码，包括：

3.根据权利要求2所述的按键电路的测试方法，其特征在于，在所述起始码值为偶数时，所述电平顺序码中所有偶数位对应的输出电平为预设输出电平，所述电平顺序码中所有奇数位对应的输出电平包括高电平或低电平；

4.根据权利要求3所述的按键电路的测试方法，其特征在于，所述基于进制转化算法对所有奇数位对应的高电平或低电平进行进制转化，获得所述电平顺序码中所有奇数位的测试编码，包括：</p>

5.根据...

【技术特征摘要】

1.一种按键电路的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的按键电路的测试方法，其特征在于，所述对至少两个所述输出电平进行顺序标记，获得电平顺序码，包括：

3.根据权利要求2所述的按键电路的测试方法，其特征在于，在所述起始码值为偶数时，所述电平顺序码中所有偶数位对应的输出电平为预设输出电平，所述电平顺序码中所有奇数位对应的输出电平包括高电平或低电平；

4.根据权利要求3所述的按键电路的测试方法，其特征在于，所述基于进制转化算法对所有奇数位对应的高电平或低电平进行进制转化，获得所述电平顺序码中所有奇数位的测试编码，包括：

5.根据权利要求3所述的按键电路的测试方法，其特征在于，所述基于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁盛峰，李志浩，田佳杰，
申请(专利权)人：杭州芯云半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：