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抖动测量电路、包括该抖动测量电路的抖动分析装置以及制造半导体器件的相关方法制造方法及图纸
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下载抖动测量电路、包括该抖动测量电路的抖动分析装置以及制造半导体器件的相关方法的技术资料
文档序号:41800520
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一种抖动分析装置可以包括:第一延迟电路,被配置为延迟参考时钟以输出第一时钟;第二延迟电路,被配置为延迟参考时钟以输出第二时钟,具有大于第一延迟电路的延迟值的延迟值;以及测试设备,被配置为通过测量第一时钟和第二时钟来测量第一延迟电路和第二延迟...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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