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本发明提出一种共享存储单元的分栅式闪存,包括:半导体衬底,其上具有间隔设置的源极区域和漏极区域;沟道区,位于所述源极区域和漏极区域之间;存储单元,位于所述沟道区上方;字线,位于所述存储单元上方;第一选择栅和第二选择栅,分别位于所述字线和存储...该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明提出一种共享存储单元的分栅式闪存,包括:半导体衬底,其上具有间隔设置的源极区域和漏极区域;沟道区,位于所述源极区域和漏极区域之间;存储单元,位于所述沟道区上方;字线,位于所述存储单元上方;第一选择栅和第二选择栅,分别位于所述字线和存储...