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本发明提出一种共享字线的基于多晶硅浮栅的分栅式闪存,其包括:半导体衬底,其上具有间隔设置的源极区域和漏极区域;沟道区,位于所述源极区域和漏极区域之间;第一存储位单元,位于所述沟道区与所述源极区域上方;第二存储位单元,位于所述沟道区与所述漏极...该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明提出一种共享字线的基于多晶硅浮栅的分栅式闪存,其包括:半导体衬底,其上具有间隔设置的源极区域和漏极区域;沟道区,位于所述源极区域和漏极区域之间;第一存储位单元,位于所述沟道区与所述源极区域上方;第二存储位单元,位于所述沟道区与所述漏极...