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一种测定薄膜折射率的分振幅干涉仪。其包括底盘、半导体激光光源、光衰减器、光衰减器支架、第一分光板底座、第一分光板、第一一维移动台、第一反射镜、刻度盘、带指针旋转台、样品架、第二一维移动台、第二反射镜、第二分光板底座、第二分光板和光屏；本技术...
该专利属于中国民航大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国民航大学授权不得商用。

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