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本发明涉及一种非易失性存储器器件及存储阵列测试电路和测试方法，包括：接口部分：用于与电脑上位机和外部设备连接通信；电源部分：用于电路板上的器件的供电；待测存储阵列：包括封装好待测试的存储阵列及芯片底座；主控部分：用于控制选通开关阵列；选通开...
该专利属于山东大学所有，仅供学习研究参考，未经过山东大学授权不得商用。

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