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本公开涉及电阻网络单元区域、内置自测试器、以及半导体器件。一种半导体器件的内置自测试器(BIST)包括：输入/输出(I/O)电路，包括输出缓冲器和输入缓冲器，输出缓冲器的输出端在I/O端子处耦合到输入缓冲器的输入端，I/O端子被配置以接收或...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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