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本申请提供一种测试电阻的结构及方法、WAT测试装置，应用于电阻测试技术领域，其中，第一衬垫分别连接第二衬垫和待测电阻Ra的一端；待测电阻Ra的另一端分别连接第三衬垫、第四衬垫以及二极管Rb的正极；二极管Rb的负极分别连接第五衬垫和第六衬垫；...
该专利属于上海积塔半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海积塔半导体有限公司授权不得商用。

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