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一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器和测试方法技术
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文档序号:41534090
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本发明公开了一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器和测试方法,包括用于固定岩石的夹持底座;设置在夹持底座上方的位移传感器;用于固定位移传感器的基座,第一驱动机构驱动基座沿着X轴方向移动;第二驱动机构驱动基座沿着Y轴方向移动;所述夹持底座沿着X轴...
该专利属于安徽工程大学所有,仅供学习研究参考,未经过安徽工程大学授权不得商用。
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