一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器和测试方法技术

本发明专利技术公开了一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器和测试方法，包括用于固定岩石的夹持底座；设置在夹持底座上方的位移传感器；用于固定位移传感器的基座，第一驱动机构驱动基座沿着X轴方向移动；第二驱动机构驱动基座沿着Y轴方向移动；所述夹持底座沿着X轴方向或者Y轴方向设置；底座上设有支架，支架用于安装第一驱动机构和第二驱动机构；还设有可以调节矩形框架在竖直方向位置的支撑柱内部调节机构和外部驱动机构。可以实现对任意形状岩石结构面粗糙度特征进行连续、精确的三维测量，且具备操作简单、方便携带和造价低等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及干热岩型地热资源开采，具体涉及一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器和测试方法。

技术介绍

1、在低温流体热冲击作用下干热岩储层内部会形成大量裂隙。裂隙是工质流体在热储中运移和传热的主要通道，因此裂隙粗糙度特征直接决定了干热岩的开采效率。裂隙粗糙度特征与岩体破坏时的应力条件密切相关，剪切裂隙和张拉裂隙是岩体开裂的两种主要形态。基于上述因素，研究岩体在剪切或张拉破坏后结构面的粗糙度特征是具备现实意义的。然而，尚未有合适的测量仪器和测试方法对湿润状态下岩体断裂后结构面的粗糙度特征进行测量。目前采用的岩石结构面粗糙度特征测试方法主要分为以下两类：光学扫描法和接触测量法。光学扫描法的测试精度高、测量速度快，但受岩石结构表面附着水的影响大，不适用于对工质流体热冲击后湿润岩体结构表面进行测量，且造价高，体积大，难以在工程现场进行实地测量。现有接触测量法的试验仪器测量精度低，只能对单点或曲线进行二维测量。

2、例如专利申请号为：cn202022683289.5的一种手持型浅孔粗糙度测量装置，在手持过程中定位不准确，会产生较大误差，且仅能进行单次单点本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

7.根据权利要求5所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的岩石结...

【技术特征摘要】

1.一种岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

7.根据权利要求5所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的岩石结构面粗糙度特征的测量仪器，其特征在于，

9.一种岩石结构面粗...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔翰博，姜昕彤，郭斐，莫宗云，庄维坦，赵昌爽，黄小军，赵航，李梦苓，
申请(专利权)人：安徽工程大学，
类型：发明
国别省市：