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本公开涉及一种众核芯片阵列的测试系统及装置，所述装置包括：控制模块；芯片阵列，包括多个待测众核芯片，所述多个待测众核芯片形成K行N列的芯片阵列；所述控制模块用于，输出测试指令到各个待测众核芯片，对各个待测众核芯片进行测试，并从各个待测众核芯...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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