下载Z方向叠层封装方法的技术资料

文档序号:4150551

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本发明提供了一种叠合式正向键合法。其除了提供比传统的正向键合低的弧高和较少的颈部损坏之外,与反向球焊相比,降低了敏感芯片上的键合区损伤,还提高了产量。其特征在于:器件最大的弧高,不应高于保持环形层之间的最佳缝隙的芯片的厚度;在进行芯片与芯片...
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