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测试模式控制电路及方法、测试电路和存储器技术
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文档序号:41484663
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本公开提供了一种测试模式控制电路、测试模式控制方法、测试电路和存储器,涉及集成电路测试技术领域。该测试模式控制电路包括:检测电路,被配置为响应连续接收的多个测试模式启动命令以及与各测试模式启动命令对应的模式验证信息,生成测试启动检测信号;控...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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