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本申请涉及一种薄膜厚度的测试方法，包括以下步骤：将单侧表面面积为S的待测薄膜进行能谱扫描，获得待测薄膜中特征元素的质量分数ω，待测薄膜的质量为m；根据待测薄膜中特征元素的质量分数ω、待测薄膜的质量m、特征元素的密度ρ和待测薄膜的单侧表面面积...
该专利属于一汽解放汽车有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过一汽解放汽车有限公司授权不得商用。

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