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本发明涉及半导体制造技术领域，尤其涉及一种基于遗传算法的测试稳定性提升方法及系统，方法包括以下步骤：确定利用探针卡对晶圆进行高低温测试的最少压接次数，并对初始压接顺序进行编码；随机生成若干个初始压接顺序编码作为初始种群；将每次测试压接时探针...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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