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本发明涉及一种基于NAM‑DSSD模型的飞机蒙皮缺陷检测方法，包括：获取高分辨率图像集降采样处理得到和低分辨率图像集；分别提取高分辨率图像集的高频特征和中分辨率图像集的边缘纹理细节特征，得到的成对特征块转换为高分辨率图像向量和低分辨率图像向...
该专利属于南京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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