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本发明公开一种辐照加固的过温保护电路、芯片及电子设备，涉及集成电路技术领域，以提高过温保护电路的稳定性和可靠性，确保芯片参数在辐照环境中的精度。所述辐照加固的过温保护电路包括：并联的第一温度采样模块和第二温度采样模块，以及分别与第一温度采样...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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