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一种检测电路及存储器制造技术
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文档序号:41365403
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本公开实施例公开了一种检测电路及存储器,其中,所述检测电路包括:待检测模块,连接至少一个待检测器件,被配置为产生至少一个所述待检测器件对应的待测电压;参考模块,被配置为产生参考电压;输出模块,连接所述参考模块和所述待检测模块,被配置为接收所...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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