温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提出一种芯片负载检测方法及电路，包括：响应模块，所述响应模块连接于芯片载体与负载之间，基于所述芯片载体提供的使能信号，生成用于对所述负载进行检测的配置信号；控制模块，所述控制模块与所述负载连接，获取所述负载基于所述配置信号产生的检测结...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。