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台湾积体电路制造股份有限公司
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减少接触电阻影响的测试焊点设计制造技术
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下载减少接触电阻影响的测试焊点设计的技术资料
文档序号:4132712
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集成电路结构包括:半导体晶片;在半导体晶片里的集成电路器件;和在半导体晶片的上表面上的并且连接到集成电路器件的多个测试焊点。测试焊点成对分组,在同一对中的测试焊点相互连接。...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。
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