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存储器装置及其形成方法制造方法及图纸
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文档序号:41285824
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本公开提供了一种存储器装置及其形成方法。所述存储器装置为垂直三维交叉点存储器,具有多个存储单元形成在垂直的位线与水平的字线的交叉点。这些存储单元由二个层形成,能够实现比传统技术更高的密度。其中一个层可选地包含双向阈值开关材料,以允许信息储存...
该专利属于旺宏电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺宏电子股份有限公司授权不得商用。
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