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本技术公开一种用于高功率芯片老化测试的散热装置、散热系统及设备，该散热装置包括：第一液冷基板，设有第一液冷通道和与所述第一液冷通道连通的第一冷却液入口、第一冷却液出口；第二液冷基板，设有第二液冷通道和与所述第二液冷通道连通的第二冷却液入口、...
该专利属于成都态坦测试科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都态坦测试科技有限公司授权不得商用。

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