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本公开提供了一种探针卡及芯片测试系统，包括：基板，包括工作面以及与所述工作面相对的非工作面，所述基板设置有印刷电路；探针，设置在所述基板的工作面；测试机通道，设置在所述基板的工作面，用于连接测试机；探针通道，与所述测试机通道通过所述基板上的...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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