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本申请提供一种芯片外观检测装置、芯片。检测装置包括：芯片装夹部件和第一光学检测器，第一光学检测器设置在芯片装夹部件的一侧，用于在第一位置对芯片装夹部件上的芯片进行外观检测；芯片装夹部件包括：旋转盘、定位齿和固定架；旋转盘用于传输芯片至与第一...
该专利属于海宁集成电路与先进制造研究院所有，仅供学习研究参考，未经过海宁集成电路与先进制造研究院授权不得商用。

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