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本公开是关于半导体技术领域，涉及一种半导体检测治具及其控制方法、测试系统。本公开的检测治具包括载板和测试模组，其中：载板用于承载测试模组；测试模组包括测试电路板、待测单元、接触判断电路以及显示组件，其中：测试电路板包括测试电路；待测单元位于...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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