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基片载置机构、检查装置和检查方法制造方法及图纸
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文档序号:41127207
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本发明的基片载置机构包括载置基片的载置台和对载置台上的基片的电子器件的温度进行控制的温度控制部。载置台具有顶板、被划分为多个加热区的加热部和多个温度传感器,温度控制部具有:第一温度控制器,其对于与检查中的电子器件对应的一个或多个加热区的输出...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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