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本发明公开了一种圆形晶振片表面缺陷检测方法，包括：将晶振片的源图像转为灰度图后滤波、边缘检测、截取含晶振片的最小外接矩形，再进行图像掩膜，得到图像D；对图像D进行自适应阈值二值化后进行连通域分析，划分金属涂层区域和背景区域；根据金属涂层区域...
该专利属于浙江工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江工业大学授权不得商用。

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