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一种芯片夹具和芯片失效分析系统技术方案
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下载一种芯片夹具和芯片失效分析系统的技术资料
文档序号:41034267
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本技术公开了一种芯片夹具,包括盒单元和两夹板单元。其中,盒单元为上端开口的中空结构,盒单元的两侧壁上分别开设有安装孔;两夹板单元的第一端设置于盒单元的内部,夹板单元的第二端穿过对应的安装孔位于盒单元的外部,且夹板单元的第二端可移动地设置于对...
该专利属于上海积塔半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海积塔半导体有限公司授权不得商用。
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