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存储器装置和测试该存储器装置的故障的方法制造方法及图纸
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下载存储器装置和测试该存储器装置的故障的方法的技术资料
文档序号:40979438
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本申请涉及一种存储器装置和测试该存储器装置的故障的方法。所述存储器装置包括:包括存储器单元阵列的第一芯片以及与第一芯片交叠的第二芯片。第二芯片包括:包括外围电路区域和下测试区域的半导体基板;设置在半导体基板的下测试区域上并且彼此间隔开的多个...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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