下载存储器装置和测试该存储器装置的故障的方法的技术资料

文档序号:40979438

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本申请涉及一种存储器装置和测试该存储器装置的故障的方法。所述存储器装置包括:包括存储器单元阵列的第一芯片以及与第一芯片交叠的第二芯片。第二芯片包括:包括外围电路区域和下测试区域的半导体基板;设置在半导体基板的下测试区域上并且彼此间隔开的多个...
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