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本公开提供一种半导体存储器的测试方法和设备，包括向存储块中写入测试数据，存储块包括多个标记字线和非标记字线，标记字线和非标记字线间隔设置，每个标记字线上相邻两个存储单元中测试数据不同，每个非标记字线上每个存储单元中测试数据相同，刷新目标字线...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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