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本公开提供一种半导体存储器的测试方法和设备，包括向半导体存储器所有存储块中写入第一数据，重复执行先激活第偶数个存储块内字线，在第奇数个存储块内位线和第奇数个存储块内存储单元之间形成压差，后激活第奇数个存储块内字线，在第偶数个存储块内位线和第...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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