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本发明提供了一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，包括：棱镜实体，包括一体成型的圆锥体和圆柱体；挡光板，设置在圆锥体的顶端，其中，圆柱体的后表面镀有反射层，圆柱体用于插入待测介质中，圆柱体完全插入待测介...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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