一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头制造技术

本发明专利技术提供了一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，包括：棱镜实体，包括一体成型的圆锥体和圆柱体；挡光板，设置在圆锥体的顶端，其中，圆柱体的后表面镀有反射层，圆柱体用于插入待测介质中，圆柱体完全插入待测介质后，太赫兹波沿水平方向从圆锥体耦合进入棱镜实体内，在圆柱体内进行2N(N≥1)次全内反射后沿水平方向从圆锥体出射。本发明专利技术中整个圆柱体部分均可作为传感检测表面，与传统采用一次全反射的设计方案相比，本发明专利技术可成倍的提高传感灵敏度，特别适用于将测量探头浸入液体的太赫兹传感检测应用场景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于太赫兹光谱检测，具体涉及一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头。

技术介绍

1、太赫兹是指频率覆盖在0.1～10thz的亚毫米波段，相比于x射线，太赫兹的一个显著特点就是其安全性，太赫兹的光子能量低于各种化学键的键能；与微波相比，太赫兹波的频率更高，单位时间内可以承载更多的信息；太赫兹比红外线的多普勒效应更不明显，这允许太赫兹能够记录更为清晰的分子特征。

2、太赫兹在应用上存在着物理上的限制，由于水分子间广泛的氢键网络能够与太赫兹产生很强的相互作用，导致水对太赫兹具有强烈的吸收。对于含水量较高的样品，将太赫兹与衰减全反射(attenuated total reflection，atr)相结合，通过倏逝波作用于样品表面，测量倏逝波与样品之间的相互作用，能够有效克服水对thz波的强烈吸收。与傅里叶变换衰减全反射红外光谱技术相比，太赫兹衰减全反射光谱技术不用经过kramers kronig变换就可以同时获取样品的强度和相位信息。

3、目前，已公开的太赫兹衰减全反射测量方案多采用基于单次全内反射的道威棱镜进行测量，单次反射倏逝波穿本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，其特征在于：

4.根据权利要求2所述的圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，其特征在于：

【技术特征摘要】

1.一种圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的圆棒状太赫兹衰减全反射测量探头，其特征在于：

3.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁英豪，朱亦鸣，庄松林，务胜澳，闵剑华，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：发明
国别省市：