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本发明公开了一种基于三点法误差分离技术的超精密主轴测量方法及测量支座，测量方法包括以下步骤：S1、安装好检棒，以使检棒的轴线与主轴的轴线同轴；S2、采用三点法误差分离技术校核检棒的圆度轮廓；S3、将三个位移传感器沿XYZ三个方向安装，测量主...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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