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本发明提供一种自带存放位置的芯片测试装置，包括测试负载板和设置于测试负载板的夹具，夹具包括夹具底座和夹具盖，夹具底座连接于测试负载板的一侧，夹具底座具有用于承载被测试芯片的芯片承载位，芯片测试装置还包括夹具盖存放结构，夹具盖存放结构连接于测...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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