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本发明提供了一种芯片的老化测试设备，涉及芯片测试技术领域。本发明中先将探针盖板安装在夹具的安装工位的上方，并与夹具连接限定形成用于放置芯片的安装工位，之后将供油装置分别与探针盖板的进口和出口连接，以及将供气装置与进口连接，进口和出口均与密封...
该专利属于苏州联讯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州联讯仪器股份有限公司授权不得商用。

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