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本技术涉及芯片老化测试实验技术领域，且公开了一种用于芯片散热的测试插座压测结构，底座的上端设置有上盖，底座与上盖之间设置有芯片测试模块，上盖的内壁上设置有按压臂，按压臂与芯片测试模块的上表面相贴合在一起，按压臂上设置有散热装置，底座的内壁上...
该专利属于莫扎特半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过莫扎特半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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