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本发明涉及点目标红外辐射测量技术领域，尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。包括：S1：利用中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对中波红外图像和长波红外图像进行处理，获得中波红外辐射亮度和...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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