【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及点目标红外辐射测量，尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。
技术介绍
1、点目标的红外辐射测量技术是靶场获取点目标的辐射亮度或温度的主要方法之一，靶场获取的红外军事目标图像多为远距离的点目标，由于光学系统存在像差、光学衍射或易受大气扰动的影响，目标图像中的目标灰度仅占几个或几十个像素，且灰度弥散效应严重，因此需对目标灰度产生的影响进行修正。采用常规的单波段红外辐射测量方法需通过已知的点目标的面积等先验参数来消除点目标的图像灰度所产生的弥散的影响，否则会导致点目标的辐射测量误差很大，因此，在点目标的面积处于未知的情况下，无法对点目标的辐射亮度和温度进行有效获取，严重影响了靶场中远距离的点目标红外辐射测量的适用性。
技术实现思路
1、本专利技术为解决在点目标的面积处于未知的情况下，无法对点目标的辐射亮度和温度进行有效获取的问题，提供一种点目标红外辐射测量方法，能够在点目标的面积未知的情况下，对点目标的红外辐射亮度和温度进行有效测量，从而提高了红外辐射测量技术在靶场的适用性。
...【技术保护点】
1.一种点目标红外辐射测量方法，利用标定过的中长波红外成像系统实现，其特征在于，具体包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的点目标红外辐射测量方法，其特征在于，当所述中长波红外成像系统对所述点目标进行中波红外成像时，所述中长波红外成像系统的探测器响应波段范围为3.7~4.8μm；当所述中长波红外成像系统对所述点目标进行长波红外成像时，所述中长波红外成像系统的探测器响应波段范围为7.7~9.3μm。
3.根据权利要求1所述的点目标红外辐射测量方法，其特征在于，所述点目标在9*9的像素范围内。
4.根据权利要求1所述的点目标红外辐射测量...
【技术特征摘要】
1.一种点目标红外辐射测量方法，利用标定过的中长波红外成像系统实现，其特征在于，具体包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的点目标红外辐射测量方法，其特征在于，当所述中长波红外成像系统对所述点目标进行中波红外成像时，所述中长波红外成像系统的探测器响应波段范围为3.7~4.8μm；当所述中长波红外成像系统对所述点目标进行长波红外成像时，所述中长波红外成像系统...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨国庆，余毅，孙志远，李周，李云龙，庞鑫宇，张涛，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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