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本公开涉及一种半导体装置及其温度特性测试方法。在测试带隙基准电路的温度特性之前，测量针对多个样本的基准电压和绝对温度比例电压的温度依赖性。在测试温度特性时，基于带隙基准电路在预定温度下的基准电压与多个样本的基准电压的中值之间的差异ΔVref...
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