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本发明涉及光学元件加工技术领域，涉及一种抛光与原位检测装置及抛光加工方法；装置包括工作台、抛光机构、原位检测装置及检测定位装置，检测定位装置设于工作台上；原位检测装置包括可翻转设在工作台上的检测支架、设在检测支架上的条纹显示装置及图像摄取装...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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