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用于高纯锗单晶霍尔检测的低温检测组件制造技术
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文档序号:40622211
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提供一种用于高纯锗单晶霍尔检测的低温检测组件,其包括绝缘底板、绝缘槽体、绝缘顶盖、样品承载机构及磁场施加机构。绝缘槽体从绝缘底板向上延伸;绝缘顶盖覆盖绝缘槽体,绝缘顶盖设有开口,绝缘顶盖、绝缘槽体及绝缘底板围成收容腔,收容腔用于收容液氮。样...
该专利属于安徽光智科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过安徽光智科技有限公司授权不得商用。
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