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本发明提供了一种基于三维光偏折效应的Mini LED芯片检测方法，S0.预设激光经过Mini LED芯片的正常位置时的折射角度；S1.依据灯板上Mini LED芯片的位置设置折射片组一和折射片组二在导光板上的位置；S2.通过导光板两端的对位...
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