温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，一、利用平面波综合算法，求解每一个发射天线的发射系数；二、根据目标尺寸确定聚集平面波谱的盒子尺寸，使用二分法分割盒子，确定包围盒的非空盒子总数N；三、通过近场测试数据，利用多平面波聚集中...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。