一种缩短近场采样距离的近场RCS测试方法技术

本发明专利技术公开了一种缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，一、利用平面波综合算法，求解每一个发射天线的发射系数；二、根据目标尺寸确定聚集平面波谱的盒子尺寸，使用二分法分割盒子，确定包围盒的非空盒子总数N；三、通过近场测试数据，利用多平面波聚集中心的快速非规则天线场变化算法求解远场场值；四、将每一个发射天线对应的发射系数与目标方向对应的远场电场相乘，并叠加所有的发射天线的结果，得到目标方向的远场电场并转换为RCS；本发明专利技术能够既保证算法在近距离采样下的计算精度，同时避免了计算资源的损耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电磁测量，具体涉及一种缩短近场采样距离的近场rcs测试方法。

技术介绍

1、雷达散射截面(radar cross section，rcs)用于衡量飞行器、车辆、舰船等雷达探测对象散射电磁波的能力，因此在设计具有重要军事价值的隐身目标时，rcs的测量与评估是十分必要的。然而，测量目标飞行器的rcs是很困难的，因为rcs的计算需要平面波入射并要求接收满足远场(far field,ff)条件。根据rcs测量系统的不同架构，目标rcs特征的实际测量可分为远场测量、紧缩场测量和近场测量三种类型。其中，近场测量通过测量得到的目标近场(near field,nf)信息，辅助近远场转换(near field–far fieldtransformation,nffft)的算法，得到远场rcs的测试结果。通常的后处理算法分为成像近似算法与全波算法。成像近似算法使用近场的单站测量信息以外推目标的远场单站信息,在针对一些复杂的目标的多次散射与其他复杂耦合作用时，近似方法可能无法提供精确的计算结果。全波方法需要测量近场的双站结果，并使用平面波综合(plane-wave本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，其特征在于，步骤二中，盒子尺寸需确保转移操作的距离大于盒子本身尺寸的两倍，并且确保目标尽可能填充在多个盒子的总范围内，在多层快速多极子的框架中，使用二分法的分割方法，将目标的最大尺寸二分U次。

3.如权利要求2所述的缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，其特征在于，盒子尺寸d需满足：

4.如权利要求2或3所述的缩短近场采样距离的近场RCS测试方法，其特征在于，U的计算公式为：

5.如权利要求1所述的缩短近场采...

【技术特征摘要】

1.一种缩短近场采样距离的近场rcs测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的缩短近场采样距离的近场rcs测试方法，其特征在于，步骤二中，盒子尺寸需确保转移操作的距离大于盒子本身尺寸的两倍，并且确保目标尽可能填充在多个盒子的总范围内，在多层快速多极子的框架中，使用二分法的分割方法，将目标的最大...

【专利技术属性】
技术研发人员：盛新庆，张慧雯，杨明林，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：