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探针(20)利用由具有导电性的第一金属构成的低电阻构件(L)和由电阻率比低电阻构件(L)高的、具有导电性的第二金属构成的高电阻构件(H)构成，在接触部(20c)和端子部(20t)之间，在与对检查对象(W)进行检查时的探针(20)的压曲方向不...
该专利属于日本电子材料株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电子材料株式会社授权不得商用。

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