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半导体装置及其制造方法制造方法及图纸
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文档序号:40487612
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本公开涉及半导体装置及其制造方法。半导体装置包括:下结构;水平导线,在下结构之上水平取向;数据存储元件,设置在下结构之上以与水平导线间隔开;垂直导线,在水平导线和数据存储元件之间垂直取向;水平层,在水平导线和数据存储元件之间水平取向,并且包...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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